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半導體芯片老化測試：艾德克斯IT2700的"多通道+回饋式"創(chuàng)新解決方案

在半導體領域，電源管理芯片老化測試是評估器件可靠性和篩選潛在缺陷的重要環(huán)節(jié)，通過模擬極端工況加速芯片老化以暴露材料、工藝或設計中的薄弱點。隨著電子設備的不斷小型化和高性能的追求，半導體芯片在各種應用場景中扮演著越來越關鍵的角色。為了避免芯片在長期運行過程中可能出現(xiàn)的性能下降、甚至失效等問題，進行老化測試顯得尤為重要。

嵌入式設計參考解決方案

該一體化解決方案解決了大多數(shù)的嵌入式系統(tǒng)調試難題，是我們強烈推薦的系統(tǒng)。它基于5系列B MSO示波器構建，包括軟件、探頭、遠程協(xié)作軟件和正常運行時間保障包。

測試自動化/儀器高速接口

泰克將推出下一代高速接口(HSI)框架，與當前的VXI-11以太網(wǎng)(VISA)連接相比，該框架將允許其客戶以2.5倍或更高的速度將數(shù)據(jù)從示波器傳輸?shù)接脩舻腜C。啟用后，您的示波器將自身作為高速接口服務器，允許遠程客戶端(PC)以編程方式連接。

半導體器件及材料測試和試驗方案

深圳市萬博儀器儀表有限公司（簡稱：萬博）是由行業(yè)資深及專業(yè)的人員，根據(jù)國內行業(yè)發(fā)展的測試需要而成立的，旨在為國內客 戶提供更專業(yè)的產(chǎn)品測試解決方案。 萬博掌握了國內外豐富的產(chǎn)品、技術和系統(tǒng)資源，保持了和各級工程師的密切交流，本著誠信、專業(yè)和服務的態(tài)度，幫助國內的行業(yè)客戶選擇正確的、合適的測試方案或系統(tǒng)，提供增值的服務?！?/div>

光儲逆變器車載與電源電控ATE

光儲逆變器ATE車 載OBC/DCDC ATE 新能源汽車電控測試臺架 測試軟件 測試電源與測控板卡

電動車無線充電器自動測試系統(tǒng) Model 8000

航空航天和國防

醫(yī)療器械和系統(tǒng)解決方案

確保醫(yī)療器械和系統(tǒng)有效、安全且具有成本效益。醫(yī)療產(chǎn)品設計帶來一系列相關挑戰(zhàn)，包括嚴格的屏蔽要求、復雜的反饋系統(tǒng)、小巧的設備尺寸等等。您需要受信設備，以便測試和驗證從研發(fā)到生產(chǎn)階段的所有設計。

為客戶提供專業(yè)的醫(yī)療電子測試解決方案

由于物聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展，醫(yī)療保健行業(yè)在過去的五年中贏得了長足發(fā)展的成就。對于醫(yī)療保健專業(yè)人員和患者來講，這種成就產(chǎn)生的優(yōu)點是毋庸置疑的。因此，所有茀蕨醫(yī)療保健設備和工具都應該是智能的--數(shù)十個傳感器為客戶提供無線方式互相相連及相連到互聯(lián)網(wǎng)。

半導體測試方案

泰克及旗下吉時利品牌，提供從晶元到系統(tǒng)的專業(yè)半導體測試方案。包括半導體材料測試平臺、半導體工藝測試平臺、芯片設計測試平臺、芯片驗證測試平臺等。 半導體材料測試平臺包括： 針對晶元級半導體材料或半導體器件，泰克提供半導體參……

教育和教學實驗室

二維/石墨烯材料電阻率測試方案